01 / COATING
めっき・表面層
Au、Ag、Ni、Cr、Cu、Sn、Znなど、 表面に存在する元素を確認し、 めっき・表面処理の構成を評価します。
COATING THICKNESS ANALYSIS
膜厚・めっき分析
表面だけではなく、
「めっき層」と「膜厚」を評価する。
金・銀・ニッケル・クロムなどのめっきや表面処理について、 XRFを用いて表面層・下地材料・膜厚を評価します。 「何のめっきなのか」「どの程度の厚さなのか」 「仕様どおりの表面処理になっているか」を確認したい場合に利用できる分析サービスです。
基本料金
55,000円～
税込
※画像はXRFによる膜厚・めっき分析のイメージです。
SURFACE
表面層を確認
SUBSTRATE
下地材料を確認
THICKNESS
膜厚を評価
PRICE
55,000円～
WHEN TO USE
こんなときにご利用ください
✓
めっきの種類と膜厚を確認したい
✓
表面処理が仕様どおりか確認したい
✓
金・銀・ニッケル・クロムめっきなどを調べたい
✓
めっきの下地材料も確認したい
✓
新旧製品で表面処理に違いがないか確認したい
✓
仕入れ先変更後のめっき品質を確認したい
WHAT WE ANALYZE
膜厚・めっき分析で調べること
通常の元素分析から一歩進み、 表面層・下地・膜厚という「層構造」を意識して評価します。
02 / SUBSTRATE
下地材料
測定条件や膜厚などを考慮しながら、 めっき層の下にある材料について得られる情報を整理します。
03 / THICKNESS
膜厚
対象となるめっき・下地の組み合わせと測定条件が適合する場合、 XRFによる非破壊膜厚評価を行います。
COATING STRUCTURE
「表面」と「下地」を分けて考える
めっき層構造のイメージ
表面めっき
例：Au / Ag / Cr など
中間層・下地めっき
例：Ni / Cu など
母材
ステンレス・銅合金・鉄鋼など
XRFの結果は、
表面層の影響を受けます。
めっき製品を通常の元素分析で測定すると、 表面めっきと下地材料からの信号が重なって検出される場合があります。
そのため膜厚・めっき分析では、 「どの元素が検出されたか」だけではなく、 表面層、下地、膜厚、材質の組み合わせを考慮して 分析条件を設定します。
通常の元素分析と、膜厚分析は同じではありません。
膜厚評価には、対象となるめっきと母材の組み合わせに応じた
測定条件や校正・モデル設定等が必要になります。
PRICE
基本料金
膜厚・めっき分析
55,000円～
税込
基本料金に含まれる内容
- 試料1点
- 試料・層構成の事前確認
- 測定箇所の選定
- XRFによる表面元素分析
- めっき・下地構成の評価
- 対応可能な条件での膜厚評価
※基本料金は試料・分析目的・層構成により内容が異なります。
※複数箇所、複数試料、多層構造などは追加料金となる場合があります。
※すべてのめっき・母材の組み合わせについて膜厚測定できるわけではありません。
※正式分析報告書は別途＋35,000円です。
※複数箇所、複数試料、多層構造などは追加料金となる場合があります。
※すべてのめっき・母材の組み合わせについて膜厚測定できるわけではありません。
※正式分析報告書は別途＋35,000円です。
APPLICATIONS
分析対象の例
金めっき
電子部品、接点、アクセサリー、 工業部品などの金めっき層を評価します。
銀めっき
電気接点、端子、工業部品などに使用される 銀めっきの表面状態を確認します。
ニッケルめっき
下地処理や耐食性を目的とした ニッケル層の分析に活用できます。
クロムめっき
金属部品等のクロム系表面処理について、 表面元素や層構成を確認します。
電子・電気部品
端子、コネクタ、接点、 基板部品などの表面処理確認に利用できます。
工業部品
ボルト、金具、切削部品、 プレス部品などの表面処理評価に対応します。
IMPORTANT
膜厚分析についての重要事項
「元素が検出された」だけでは、
膜厚は分かりません。
通常のXRF元素分析では、 表面から検出された元素とその強度・組成を確認します。
一方、膜厚分析では、 めっき材料、下地材料、層数などの情報を考慮し、 その組み合わせに適した測定モデル・条件を用いて評価します。
分析前に、試料情報を確認します。
「金めっきだと思う」「母材は真鍮」「仕様上はNi下地＋Au」 など、分かっている情報があればお知らせください。 材質や層構成がまったく不明な場合は、 まず基礎元素分析や材質評価からご案内する場合があります。
FORMAL ANALYSIS REPORT
膜厚・めっき分析を、
膜厚・めっき分析を、
「使える資料」に。
＋35,000円
品質管理、受入検査、仕入れ判断、 取引先への説明などに使用したい場合は、 正式分析報告書を追加できます。
- 試料情報
- 測定箇所
- 測定条件
- 検出元素・層構成
- 膜厚測定結果
- 測定画像・スペクトル等
- 分析結果に基づく所見
HOW TO ORDER
ご依頼の流れ
お問い合わせ
試料写真と、めっき・膜厚について 何を確認したいかお知らせください。
層構成を確認
めっき種類、母材、想定される層構成、 測定箇所などを確認します。
測定条件を設定
試料と分析目的に応じて、 XRFの測定条件・膜厚条件を選定します。
分析・結果報告
表面層、下地、膜厚などを測定し、 ご依頼内容に応じて結果をご報告します。
FAQ
よくあるご質問
めっきの厚さを非破壊で測定できますか？
対象となるめっき材・下地材・膜厚範囲などが
測定条件に適合する場合は、
XRFによる非破壊膜厚評価が可能です。
試料情報を確認したうえで測定可否をご案内します。
めっきの種類が分からなくても依頼できますか？
はい。
まず元素組成を確認し、
表面に存在する元素や下地候補を整理することができます。
ただし膜厚測定には層構成の情報が必要になる場合があります。
多層めっきも測定できますか？
多層膜は、各層の材質・厚さ・母材との組み合わせによって
測定の可否や精度が変わります。
事前に層構成や想定仕様を確認したうえで判断します。
金めっきの下にニッケルがあるか確認できますか？
測定条件や各層の厚さによっては、
AuとNiの両方が検出される場合があります。
検出結果と想定される層構成を踏まえて評価します。
通常の基礎元素分析との違いは何ですか？
基礎元素分析は、主に試料から検出される元素と
その含有割合を確認するサービスです。
膜厚・めっき分析ではさらに、
表面層・下地・膜厚という層構造を考慮して測定・評価します。
複数製品の膜厚を比較できますか？
はい。
新旧製品、正常品と不良品、
仕入れ先AとBなどを同条件で比較することも可能です。
試料数や測定箇所数に応じてお見積りします。
全国から依頼できますか？
はい。
郵送による分析依頼に対応しています。
まず試料写真と分析したい内容をお知らせください。
COATING THICKNESS ANALYSIS
めっきの「種類」だけでなく、
めっきの「種類」だけでなく、
「層」と「厚さ」まで。
膜厚・めっき分析 55,000円～
めっきの種類、下地材料、膜厚、
表面処理の違いなどを確認したい場合は、
まず試料写真と分かっている仕様をお知らせください。
分析可能な条件と測定内容をご案内します。