EDX-7200
にじや分析ラボの中核となる据置型XRF分析装置。 金属・工業部品などの元素分析を行い、 材質評価、比較分析、膜厚・めっき分析、 RoHS関連元素スクリーニング、不具合調査などに使用します。
- 元素組成分析
- 材質候補の評価
- 製品・部品比較
- 膜厚・めっき評価
- RoHS関連元素スクリーニング
- 不具合・原因調査
材料分析・元素分析・原因解析の専門ラボ
ANALYSIS EQUIPMENT
測るだけで終わらない。その判断を支える分析機材。 にじや分析ラボでは、XRFによる元素分析を中心に、 膜厚、導電率、超音波、比重、顕微鏡観察など、 複数の測定・観察手法を組み合わせて材料や部品を評価します。
元素組成、材質、膜厚、表面処理、厚み、密度、表面状態。 ひとつの測定だけでは判断しにくい場合には、 複数の装置による結果を組み合わせて評価します。
金属や部品に含まれる元素を測定し、 材質評価・製品比較・不具合調査などに活用します。
めっきや表面処理について、 層構成や膜厚を評価します。
顕微鏡で腐食・傷・加工痕・異物・接合部などを観察します。
にじや分析ラボの中核となる据置型XRF分析装置。 金属・工業部品などの元素分析を行い、 材質評価、比較分析、膜厚・めっき分析、 RoHS関連元素スクリーニング、不具合調査などに使用します。
非破壊で元素組成を測定するXRF分析装置。 金属材料の元素組成確認や、 複数箇所を測定した比較評価などに使用します。
ハンドヘルド型XRF分析装置。 据置型装置へ入れにくい大型試料や、 柔軟な測定が必要となる案件への対応強化を目的としています。
導電率を測定し、 XRFによる元素組成とは異なる物性面から 材質評価を補助します。
小型試料やコイン形状などの導電率評価に使用する 補助分析機材です。
超音波を用いて試料の厚さを測定します。 寸法確認や材料調査の補助測定に使用します。
比重・密度を測定し、 元素組成だけでは判断しにくい材質評価を補助します。
精密質量測定を行い、 比重測定や重量整合性の確認を補助します。
微細な表面状態、腐食、傷、加工痕、 接合部などを観察するデジタル実体顕微鏡。
高解像度・高コントラストで微細な表面を観察する実体顕微鏡。 不具合部と正常部の比較などに使用します。
ダイヤモンド・合成ダイヤモンド・類似石の 判定を補助する検査機材です。
必要に応じて複数の測定・観察結果を組み合わせ、 それぞれの結果に矛盾がないかを確認します。
| 測定・観察方法 | 主に分かること | 主な活用例 |
|---|---|---|
| XRF | 元素組成 | 材質評価・比較・RoHS・不具合調査 |
| 膜厚分析 | めっき層・膜厚 | 表面処理・品質確認 |
| 導電率 | 電気的特性 | 材質評価の補助 |
| 超音波 | 厚さ | 寸法確認・材料調査 |
| 比重 | 密度 | 材質評価の補助 |
| 顕微鏡観察 | 表面状態 | 腐食・傷・加工痕・異物確認 |
分析方法や使用機材が分からなくても大丈夫です。 目的に応じた分析方法をご提案します。